SRM 1740鋅鋁合金標(biāo)準(zhǔn)品(美國(guó)NIST) 為圓盤(pán)形式，直徑約為 50.8 毫米（2 英寸），厚 12.7 毫米（0.5 英寸），用于光發(fā)射和 X 射線熒光光譜分析方法。這種材料是七種鋅基合金系列中的一種，準(zhǔn)備涵蓋鋅和鍍鋅行業(yè)感興趣的一系列鋁和鉛成分。該系列中的其他鋅合金是 SRM 1736、1737、1738、1739、1741 和 1742，均為盤(pán)形； SRM 2139 與 SRM 1739 材料相同，但以芯片形式提供。

鋁和鉛的認(rèn)證值在表 1 中給出。用于表征該 SRM 的分析方法是火焰原子吸收光譜法 (FAAS) 和電感耦合等離子體發(fā)射光譜法 (ICP-OES)。所有值均以質(zhì)量分?jǐn)?shù)報(bào)告 [1]。

認(rèn)證值和不確定性：

NIST 認(rèn)證值是 NIST 對(duì)其準(zhǔn)確性有最高置信度的真實(shí)值的當(dāng)前最佳估計(jì)，因?yàn)樗幸阎蚩梢傻钠顏?lái)源都已由 NIST 調(diào)查或解釋。每個(gè)認(rèn)證值都是實(shí)驗(yàn)室平均值。不確定性在每個(gè)認(rèn)證值中，以 95% 置信水平下的擴(kuò)展不確定度 U 表示，并根據(jù) ISO 指南 [2] 中描述的方法計(jì)算。擴(kuò)展的不確定性計(jì)算為 U = kuc，其中 uc 旨在在一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)偏差的水平上表示材料不均勻性以及實(shí)驗(yàn)室間和實(shí)驗(yàn)室內(nèi)不確定性成分的綜合影響。覆蓋因子，Al 的 k = 2.57 和 Pb 的 k = 2.37 由分別對(duì)應(yīng)于 5 個(gè)和 7 個(gè)自由度的學(xué)生 t 分布以及每種分析物的 95% 置信度確定。

使用說(shuō)明

測(cè)試表面是與標(biāo)記表面相對(duì)的一側(cè)，其中包括 SRM 1740鋅鋁合金標(biāo)準(zhǔn)品(美國(guó)NIST)  編號(hào)。 NIST 根據(jù)使用電弧火花發(fā)射光譜法進(jìn)行的均勻性測(cè)試的設(shè)計(jì)和結(jié)果，對(duì)裝置的整個(gè)厚度進(jìn)行了認(rèn)證。但是，警告用戶(hù)不要測(cè)量厚度小于 2 毫米的圓盤(pán)。

使用 X 射線熒光光譜法。每個(gè)封裝的磁盤(pán)都是通過(guò)使用銑床完成測(cè)試表面來(lái)準(zhǔn)備的。用戶(hù)必須為每種分析技術(shù)確定正確的表面處理程序。

提醒用戶(hù)在重修磁盤(pán)或進(jìn)行額外拋光時(shí)要小心，因?yàn)檫@些過(guò)程可能會(huì)污染表面。對(duì)于電弧火花發(fā)射光譜法，建議單次測(cè)定基于在不同位置的多次“燒傷"的平均值。準(zhǔn)備好的測(cè)試表面。為化學(xué)測(cè)試方法準(zhǔn)備的樣品應(yīng)包括使用銑床從整個(gè)表面上取出的大碎片。根據(jù)用于賦值的測(cè)試方法，建議使用 1.0 g 的最小樣本量來(lái)獲得代表本證書(shū)中給出的值和不確定性估計(jì)的結(jié)果。不使用時(shí)，應(yīng)將材料存放在其原始容器中，置于陰涼干燥的地方。